|
課程名稱 |
積體電路系統測試
Vlsi System Testing |
|
開課學期 |
99-2 |
|
授課對象 |
電機資訊學院 電機工程學研究所 |
|
授課教師 |
黃俊郎 |
|
課號 |
EEE5011 |
|
課程識別碼 |
943 U0110 |
|
班次 |
|
|
學分 |
3 |
|
全/半年 |
半年 |
|
必/選修 |
選修 |
|
上課時間 |
星期四6,7,8(13:20~16:20) |
|
上課地點 |
博理214 |
|
備註 |
總人數上限：30人 |
|
Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/992SysTesting |
|
課程簡介影片 |
|
|
核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
|
課程大綱
|
|
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
|
|
課程概述 |
1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 內建自我測試
4. 記憶體測試
5. ADC/DAC測試
6. 高速串列I/O測試 |
|
課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術，內容包含可測試性設計（Design-for-Test）、內建自我測試（Built-In Self-Test）、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
|
課程要求 |
1. 預修課程: 邏輯電路設計、電子學
2. 除了上課外，修課學生必須於閱讀指定的論文或文件並進行報告。
3. 修課學生需完成指定的專題作業。 |
|
預期每週課後學習時數 |
|
|
Office Hours |
|
|
指定閱讀 |
|
|
參考書目 |
教科書：
L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
參考書目：
M.L. Bushnell and V.D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, 2000.
M. Burns and G. W. Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.
|
|
評量方式
(僅供參考) |
|
|
週次 |
日期 |
單元主題 |
|
第1週 |
2/24 |
Overview |
|
第2週 |
3/03 |
Design-for-Test |
|
第3週 |
3/10 |
Built-In Self-Test<br>
Reading Assignment Presentation |
|
第4週 |
3/17 |
Test Compression<br>
Memory Testing |
|
第5週 |
3/24 |
Memory Testing (cont'd)<br>
Reading Assignment Presentation |
|
第6週 |
3/31 |
Memory Testing (cont'd) |
|
第7週 |
4/07 |
Coherent Sampling<br>
Reading Assignment Presentation |
|
第8週 |
4/14 |
Static ADC/DAC Testing |
|
第9週 |
4/21 |
AMS Testing<br>
Reading Assignment Presentation |
|
第10週 |
4/28 |
AMS Testing<br>
Reading assignment presentation |
|
第11週 |
5/05 |
停課（VTS） |
|
第12週 |
5/12 |
High-speed serial link testing |
|
第13週 |
5/19 |
期中考<br>
範圍：至AMS Testing<br>
方式：open book |
|
第14週 |
5/26 |
High Speed Serial Link Testing |
|
第15週 |
6/02 |
Low power testing |
|
第16週 |
6/09 |
Software-Based Self-Testing |
|
第18週 |
06/23 |
期末報告 |
|